| 產品參數 |
| 品牌 | 美國Foresite |
| 可售地區 | 全國 |
| 萃取方式 | 去離子水蒸汽萃取 |
| 發貨地 | 廣東深圳 |
| C-3測試元件操作 | for IC( 離子濃度色譜分析儀) |
| 測試物 | 各式電子產品之正負離子殘留值 |
| 萃取面積 | 0.1in2 |
| 檢測報告 | 提供專業的檢測報告 |
| 測試方式 | 電氣測試 |
| 檢測方式 | IPC TM 650.2.3.28 |
| 使用水 | DI水（蒸汽） |
| 判定結果 | 清潔”或“污染” |
| 組裝后的板面積 | 增加10 |
| C3局部萃取法 | IPC-TM- 650 Standard 2 |
| 可售賣地 | 全國 |
| 型號 | C3 | |
FORESITE公司在美國是具有有影響力的性的專業級之檢測實驗室，它可提供以下專業的檢測測試。
測試各式電子產品之正負離子殘留值，并提供專業的檢測報告。
檢測方式：IPC TM 650.2.3.28 (Ionic Analysis of circuit boards,ion chrom atography method)
C3用途
Monitoring tool for production floor
Focus on sensitive area of concern (0.1 in2)
聚焦在問題的萃取面積為0.1in2
Performs electrical test and gives immediate ‘clean’ or ‘dirty’ reading based on Foresite recommended limits for ionic contamination
進行電氣測試并在Foresite建議的離子污染限值基礎上給予“清潔”或“污染”的清潔度判定結果
Localized extraction method for Ion Chromatography
Extracts sample from localized testing area using deionized steam
使用去離子水蒸汽萃取局部測試區的樣品
Samples can be shipped to a lab for Ion Chromatography analysis
萃取后的樣品直接進行IC分析
C-3測試元件操作：for IC( 離子濃度色譜分析儀)
Localized Extraction by C3 & Test per IPC-TM- 650 Standard 2.3.28
C3局部萃取法IPC-TM- 650 Standard 2.3.28
Uses D.I. Water (Steam) 使用DI水（蒸汽）
Dilution factor for I.C. is based on Cell Aperture (0.1in2)
IC的稀釋因子取決于測試頭的孔徑(0.1in2)
Dilution factor is (2.2mL / 0.1in2 = 22)
稀釋因子計算公式是 (2.2ml/0.1in2=22)
For Populated Boards add 10 (2.2mL / 0.11in2 = 20)
對于組裝后的板面積需要增加10（2.2ml/0.11in2=20)
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