| 日本yamabun相機膠片用測厚儀TOF-5R01秋山貿易 |
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價格：6.80 元(人民幣) | 產地：廣東深圳 |
| 最少起訂量：1 | 發貨地：廣東深圳 | |
| 上架時間：2023-11-26 05:06:40 | 瀏覽量：39 | |
深圳市秋山貿易有限公司
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| 經營模式：貿易公司 | 公司類型：私營有限責任公司 | |
| 所屬行業：其它設備 | 主要客戶：農研所、機械廠、實驗室等 | |
 在線咨詢  |
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| 聯系人:黃婧文 (小姐) | 手機:18875910180 |
電話: |
傳真: |
| 郵箱:akiyama_huang@163.com | 地址:廣東省深圳市龍華街道 |
日本yamabun桌上用離線式膠片測厚儀TOF-5R01
模型測量方法測量對象測量原理
產品特點
產品規格測量厚度測量長度測量間距最小顯示值測量壓力電源電壓工作溫度限制濕度能量消耗選項
? ? 日本yamabun薄膜、片材臺式離線接觸式測厚儀TOF-4R05
模型測量方法測量對象測量原理
產品特點
產品規格測量厚度測量長度測量間距最小顯示值測量壓力電源電壓工作溫度限制濕度能量消耗選項
? 型號：TOF-4R05測量方法 聯系方式 線規/夾取法 測量對象薄膜、片材測量厚度0.03 至 3 毫米 型號：TOF-5R01測量方法 聯系方式 線性規 測量對象電影測量厚度0.02-0.2毫米 型號：TOF-6R001測量方法 聯系方式 線性規 測量對象薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學薄膜等）測量厚度5-100微米 型號：TOF-C2 * TOF-C 的后續型號測量方法 非接觸式 電容式 測量對象薄膜、粘性保護膜、易附著灰塵的薄膜測量厚度~ 500 微米 型號：TOF-S測量方法 非接觸式 光譜干涉儀 測量對象電子、光學用透明平滑膜、多層膜測量厚度1 至 50 μm（用于薄材料） 型號：TOF-M測量方法 聯系方式 線性規 測量對象鋼板或鋁板等金屬板測量厚度0.1-0.5毫米 ? ? .jpg) .jpg)
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