小型·操作簡便 充分考慮作業現場內的使用環境,占地空間小,方便操作。 可測量倍率(1×、2.5×) 測定倍率擴大到2.5×,可簡單測量小件物體。與Φ60-Φ15(可選件)的孔徑轉換器組合匹配使用的話,可最大擴大10倍。(平面測定時) 參照鏡片λ/20 高精度? 因為本社加工技術,參照鏡為λ/20高精度鏡片。根據客戶選擇的需要,也可提供λ/30 的產品。 豐富的附屬備件群? 我社準備了豐富的附屬備件。如使用干涉條紋解析裝置(KIF-FSPC/FS2000),可進行高精度條紋解析。 主要用途:- 鏡片研磨面的面精度的測定。
- 塑料成型件的面精度的測定。
- 各種金屬切削面的面精度的測定。
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規格:測定方法 | 斐佐型干涉方式 | 口徑 | Φ60(使用可選件為Φ6-Φ102)mm | 被檢物大小 | Φ6-Φ102(平面測定時)mm | 倍率 | 1×、2.5×(本體2 段切換) 4×、10×(使用Φ60-Φ15的孔徑轉換器時) | 參照面精度 | λ/20(球面以及平面) | 光源 | He-Ne(632.8nm)激光 | 電源 | AC100V 50/60Hz | 本體外形尺寸 | 220(W)×360(D)×740(H)mm | 本體重量 | 約33kg | 標準附屬品 | 9型TV顯示器、5軸調整受臺 | *特殊定單,我社可對應15Omm沖程延長樣式。 |
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各參照鏡可測量范圍(表示KIF-202L標準規格樣式時的可測定范圍) |
圖表的使用方法? 根據被檢物的曲率、凹凸形狀、口徑在坐標上選定一點,在包含此點的區域里選擇一個參照條紋。如果包含該點的參照鏡頭有若干個時,請選擇F值較大的,這 樣便可能將較大的干涉條紋顯示在顯示器上。 |
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