| 產品參數 |
| 品牌 | 日本JIMA |
| 是否支持加工定制 | 否 |
| 是否支持加印LOGO | 否 |
| 是否進口 | 是 |
| 規格 | 05Bmm |
| 尺寸 | 以實際為主cm |
| 加工定制 | 否 |
| 保修 | 一年 |
| 進口 | 原裝進口 |
| 起訂 | 1件起 |
| 發貨地 | 廣東深圳 |
| 原產地 | 日本 |
| 芯片尺寸 | 8 x 8 x 0.2 mm |
| 吸收材料厚度 | >1.0 μm 金 |
| 可售賣地 | 北京;天津;河北;山西;內蒙古;遼寧;吉林;黑龍江;上海;江蘇;浙江;安徽;福建;江西;山東;河南;湖北;湖南;廣東;廣西;海南;重慶;四川;貴州;云南;西藏;陜西;甘肅;青海;寧夏;新疆 |
| 用途 | 分辨率測試卡 |
| 類型 | 質控模體 |
| 型號 | RT RC-05B | |
一、JIMA RT RC-05B詳細介紹：
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JIMA RT RC-05B是一款采用最新半導體光刻技術制作的微型分辨率測試卡。
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它用于校準和監控系統分辨率，確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統獲得高質量的結果。
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JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米（3 μ m至50 μ m）的分辨率。這對應于6微米和100微米（6 μ m和100 μ m）之間的焦斑尺寸。
二、應用：
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修復 X 射線系統操縱器上的分辨率測試。選擇探測器、樣品和試管的距離，以實現高幾何放大倍率。
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選擇所需的 X 射線參數。將分辨率測試放置在管的前面，使線條圖案可見。使用操縱器移動測試圖，以便看到下一個較小的線對束。
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只要線條清晰可見，就繼續。焦點大小近似計算為小分辨率乘以 2。
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注意：盡量減少輻射的持續時間。在手術過程中關閉 X 射線。目標前面的熱量可能會損壞測試圖。
三、技術參數：
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狹縫尺寸：3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45 和 50 微米
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測試框架尺寸：40 x 30 x 3 mm (WxHxD)
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芯片尺寸：8 x 8 x 0.2 mm (WxHxD)
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吸收材料厚度 gt;1.0 μm 金
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Au Slit的數量為3行和2個空格
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寬度3至10 μm：T形布局
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寬度15至50 μm：I形布局L/S寬度
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L/S寬度：3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45、50 μm
圖片：
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