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　　寧波市氣體檢測(cè)儀校驗(yàn)計(jì)量 理化設(shè)備檢測(cè)服務(wù)簡(jiǎn)介

　　膜厚儀，又叫膜厚計(jì)、膜厚測(cè)試儀，分為磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。 采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。

　　磁感應(yīng)測(cè)量原理

　　采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用專利設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1，量程達(dá)10mm。

　　磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來測(cè)量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

　　電渦流測(cè)量原理

　　高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。

　　與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1，量程10mm的高水平。

　　采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適

　　X射線衍射裝置（XRD）

　　簡(jiǎn)單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息（物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。

　　具體地說,比如用不同的裝置測(cè)定(氯化鈉=NaCl)時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性。

　　膜厚儀也叫X射線測(cè)厚儀，它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。

　　關(guān)于儀器校準(zhǔn)驗(yàn)證的說明

　　1. 執(zhí)行儀器校準(zhǔn)驗(yàn)證的目的在于配合實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量管理，儀器各項(xiàng)性能參數(shù)是否滿足或基本滿足儀器出廠時(shí)的要求，同時(shí)滿足ISO15189:2007和GB22576對(duì)實(shí)驗(yàn)室檢驗(yàn)質(zhì)量的要求，保證檢驗(yàn)結(jié)果的可溯源性，不同于儀器的保養(yǎng)或者維修。

　　2. 儀器校準(zhǔn)驗(yàn)證周期一般為12個(gè)月。

　　3. 儀器校準(zhǔn)驗(yàn)證必須由儀器公司工程師和應(yīng)用技術(shù)人員執(zhí)行，否則將不予認(rèn)可。在校準(zhǔn)驗(yàn)證的全過程中，使用單位至少一名工作人員在場(chǎng)見證。

　　4. 儀器校準(zhǔn)驗(yàn)證必須依照正確、完整的流程進(jìn)行，違反流程操作將不予認(rèn)可。

　　5. 儀器校準(zhǔn)報(bào)告必須加蓋公司方可生效。

　　6. 儀器校準(zhǔn)驗(yàn)證結(jié)束后，儀器公司將出具有公司效力的儀器校準(zhǔn)驗(yàn)證報(bào)告。

　　儀器校準(zhǔn)：在規(guī)定的條件下，為確定測(cè)量?jī)x器或測(cè)量系統(tǒng)所指示的量值，或?qū)嵨锪烤咚淼牧恐担c對(duì)應(yīng)的由標(biāo)準(zhǔn)所復(fù)現(xiàn)的量值之間關(guān)系的一組操作。

　　這個(gè)方法的步首先是對(duì)儀器進(jìn)行檢查，而這個(gè)檢查需要對(duì)儀器進(jìn)行實(shí)驗(yàn)性的操作，并且要記錄操作過后的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，別忘了實(shí)驗(yàn)次數(shù)盡量多一點(diǎn)，以確保不會(huì)出問題，就是數(shù)據(jù)的比對(duì)，我們可以根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)值與實(shí)驗(yàn)值得差距推算出儀器的度，而這也就達(dá)到了我們進(jìn)行儀器校準(zhǔn)的目的。