主要技術指標<\/strong>\r<\/p>\r\r
\r DF-2000主要技術指標包括：探測器、一體化X射線發生器、主控單元\r<\/p>\r
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\r探測器\r<\/p>\r
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\r DF-2000能量色散型X熒光光譜儀采用的探測器為SDD（硅漂移探測器），與Si-Li探測器相比，它無需液氮制冷，與Si-pin探測器相比，其在相同時間內計數是其10倍，大大縮短測量時間。\r<\/p>\r
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\r探測器SDD\r<\/p>\r
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\rSDD硅漂移探測器，電制冷\r<\/p>\r
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\r典型分辨率理論129ev（1000CPS）,正常使用133ev(50000CPS)\r<\/p>\r
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\r輸出計數率100KCPS，遠大于Si-Pin與Si-Li(是其10倍左右)\r<\/p>\r
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\r峰背比>20000\r<\/p>\r
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\r鈹窗厚度8um Dura Be對輕元素有更好的透過率，獨特的Dura技術\r<\/p>\r
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\r鈹窗特點可以耐酸、堿腐蝕\r<\/p>\r
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\r處理器數字電路，放大倍數，時間常數可任意設置\r<\/p>\r
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\r探測器壽命壽命長，其獨特的Dura Be技術，保證探測器幾年內真空不會被破壞，晶體不會被損傷，無需擔心后期的維護費用\r<\/p>\r
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\r一體化X射線發生器\r<\/p>\r
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\r輸入電壓9-11VDC\r<\/p>\r
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\r輸入電流0.5A\r<\/p>\r
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\r輸出電壓50Kv，200uA\r<\/p>\r
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\r最大功率4W\r<\/p>\r
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\r穩定性8小時0.2%\r<\/p>\r
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\r結構設計\r<\/p>\r
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\r**化光路設計，可以使儀器在空氣狀態下測量Mg、Al、Si、P、S等輕元素，免除了抽真空的麻煩，以及昂貴的He氣消耗及可能帶來的He氣滲透而引起的探測器性能下降。\r<\/p>\r
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\r光譜分析系統控制和數據處理系統<\/strong>\r<\/p>\r\r
\r（1）12位模/數轉換器\r<\/p>\r
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\r（2）3.5寸高清顯示器\r<\/p>\r
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\r（3）Atom Z510 1.1GHz處理器，1G內存\r<\/p>\r
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\r（4）8G工業級（PQI） CF卡,可以存儲更多數據\r<\/p>\r
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\r（5）自定義的XPE操作系統，用戶使用更方便\r<\/p>\r
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\r（6）一鍵式設計，測量停止只需點擊一下按鈕\r<\/p>\r
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\r（7）結果、譜圖可以自由切換，當選擇結果模式時，每秒實時計算數據，使用者可以根據實時數據的精度來控制儀器的測量時間\r<\/p>\r
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\r（8）高容量聚合物鋰離子電池，一塊電池可以連續使用6小時\r<\/p>\r
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\r（9）預留USB接口\r<\/p>\r
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\r尺寸規格<\/strong>\r<\/p>\r\r
\r長*寬*高：290mm*100mm*315mm\r<\/p>\r
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\r重量：約1.8kg\r<\/p>\r
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\r工作環境<\/strong>\r<\/p>\r\r
\r溫度范圍：-10℃—40℃。\r<\/p>\r
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\r相對濕度小于等于80%\r<\/p>\r
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\r儀器說明<\/strong>\r<\/p>\r\r
\r當選擇支架（選配）時可把手持式當做臺式機使用，此時儀器可選用臺式機軟件（選配）。\r<\/p>\r
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\r當作為手持式使用時，軟件使用基本參數法計算測量結果（無標樣），選擇通用分析時可以分析所有樣品，選擇Fe基(其他基體可選)可以進一步**分析Fe基合金，當選擇不銹鋼、工具鋼、耐熱鋼等細分選項時分析精度會進一步提高。\r<\/p>\r
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\r智能光束技術，帶來更高的測量精度\r<\/p>\r
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\r合**號自動鑒別，亦可以選擇固定牌號進行判斷，判廢模式\r<\/p>\r
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\r開機預熱15分鐘，自檢完成后即可進行使用。使用人員只需簡單培訓即可操作儀器。\r<\/p>\r<\/div><\/div>
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