電機1756-IR6I
工業電路板維修技巧
不能過分依賴在線測試儀
1.功能測試不能代替參數測試
2. 功能測試僅能測試到器件的截止區,放大區和飽和區,但無法了解此時的工作頻率的高低和速度的快慢。
3. 對數字芯片而言,僅知道有高低電平的輸出變化,但無法查出它的上升和下降沿的變化速度。
4. 對于模擬芯片,它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布,解決信號方案的不同的影響,是錯綜復雜的。就目前的在線測試技術,要解決模擬芯片在線測試是不可能的。所以,這項功能測試的結果,僅能供參考。
5. 大多數的在線測試議,在對于電路板上的各類芯片進行功能測試后,均會給出“測試通過”或“測試不通過”。那么它為什么不給出被測器件是否有問題呢?這就是這類測試儀的缺撼。因為在線測試時,所受影響(干擾)的因素太多。要求在測試前采取不少的措施(如斷開晶振,去掉CPU和帶程序的芯片,加隔離中斷信號等等),這樣做是否均有效,值得研究。至少,目前的測試結果有時不盡人意。
6. 了解在線測試儀的讀者,均知道有這么一句行話。“在線測試時不通過的芯片不一定是損壞的;測試通過的芯片一定是沒有損壞的。”它的解釋為,如器件受在線影響或抗干擾時,結果可能不通過,對此不難理解。那么,是否損壞的芯片在進行測試時,均會得出“不通過”呢?回答確實不能肯定。筆者與同行均遇到過,明明芯片已損壞了(確切地說換上這個芯片板子就不工作了),但測試結果是通過的。權威解釋為這是測試儀自身工作原理(后驅動技術)所致。故此我們不能過分依賴在線測試儀(盡管各廠家宣傳的很玄)的作用,否則將使維修電路板的工作誤入歧途。
電機1756-IR6I
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開發出讓市場難以拒絕的產品并非一蹴而就。通常來說,紙袋機的選型與調試會是一項高投入、回報周期長的工作,需要畫圖、搭建物理設備、反復試錯、漸進式迭代,這不僅成為制約產品創新的瓶頸,還會造成大量的時間和資源浪費。西門子機電一體化概念設計解決方案(NX MCD)的應用使這一難題迎刃而解。
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Allen-Bradley(羅克韋爾),Schneider(施耐德),Siemens(西門子),GE(通用電氣),ABB,
Omron(歐姆龍),IFM(易福門),Emerson(艾默生),Fanuc(發那科),Foxboro(福克斯波羅),
Westinghouse(西屋),Honeywell(霍尼韋爾),Panasonic(松下),Mitsubsihi(三菱),
Beckhoff(倍福),Yaskawa(安川),Pepperl+fuchs(倍加福),B&R(貝加萊),Danfoss(丹佛斯)
,Fuji(富士),Festo(費斯托),Phoenix(菲尼克斯),Koyo(光洋),Yokogawa(橫河),
Heidenhain(海德漢),Hydac(賀德克),Hirschmann(赫斯曼),Keyence(基恩士),Moeller(穆勒),
Kuka(庫卡),Kollmorgen(科爾摩根),Lenze(倫茨),Rosemount(羅斯蒙特),LG,LS(產電),
Rexroth(力士樂),Leuze(勞易測),Norgren(諾冠),Pilz(皮爾茲),Pro-face(普洛菲斯),
SMC,Sanyo(三洋),Delta(臺達),Turck(圖爾克),Sick(施克),Sharp(夏普),Eaton(伊頓),bently (本特利)
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